اندازه گیری زاویه تماس (ایستا و پویا)
اندازه گیری کشش سطحی (Surface Tension)
اندازه گیری ضریب اصطکاک (ایستا و پویا)
طیف سنجی انعکاس کلی تضعیف شده مادون قرمز (ATR- FTIR)
میکروسکوپی الکترونی پویشی (SEM)
میکروسکوپی پویشی تونلی (STM)
میکروسکوپی نیروی اتمی (AFM)
طیف سنجی الکترونی برای تجزیه شیمیایی (ESCA)
طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)
میکروسکوپی الکترونی عبوری (TEM)

طیف سنجی تفرق انرژی اشعه ایکس (EDX)
 

مراجع
 

1. A. Fawcett, Polymer Spectroscopy, Wiley, 1996 .
2. A. Foster, W. Hofer, Scanning Probe Microscopy, Springer, 2006.
3. A. R. Clarke, C. N. Eberhardt, Microscopy Techniques for Materials Science, CRC Press 2002 .